
作品詳情
滑臺(tái)式測(cè)試設(shè)備用于半導(dǎo)體晶圓電氣性能的專業(yè)測(cè)試,通過(guò)滑動(dòng)運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)晶圓的高效移動(dòng)和精確定位。該設(shè)備集成了先進(jìn)的電氣測(cè)量技術(shù),可對(duì)晶圓上的微小電路進(jìn)行細(xì)致入微的電氣特性分析,包括電阻、電容、漏電等參數(shù)的精準(zhǔn)測(cè)量。其設(shè)計(jì)精密,操作穩(wěn)定,確保測(cè)試結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確性,為半導(dǎo)體制造過(guò)程中的質(zhì)量控制和性能評(píng)估提供重要依據(jù)。
滑臺(tái)式測(cè)試半導(dǎo)體晶圓電氣性能的設(shè)備
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